マルチコンテキスト型の動的再構成可能なプロセッサでは,1つのタスクの実行中に複数のコンテキストを切り替えることで高い面積効率を実現している.動的再構成可能なプロセッサは従来の再構成可能デバイスと構成が異なるため,そのテストには新たな手法が必要である.本論文では,テストフレームを用いた動的再構成可能なプロセッサの自己テスト手法を提案する.テストフレームの構成はコンテキストによって表現されるため,提案手法ではハードウェアオーバーヘッドがない.テストフレームはProcessing Element (PE)を複数用いて構成したテストパターン生成器,応答解析器とテスト対象PEから成り,これを切り替えることでプロセッサ全体のテストを実行する.テストフレームの構成が異なれば,テストの実行に必要なコンテキスト数が異なり,また,サイクルタイムも異なるため総テスト実行時間も変化する.ここでは,テストフレームの構成例を示しながら,テストフレームの構成とテスト実行時間,コンテキスト数の関係を考察する.テストの対象となるデバイスによりコンテキスト数の制約やコンテキスト数最小,テスト実行時間最小などのテストの方針も異なる.本手法により,コンテキスト数制約などのプロセッサの特性に応じて適切なテストフレーム構成により,テスト実行時間を最小にできる. / Dynamically Reconfigurable Processor (DRP), which can execute a task with multiple hardware contexts so as to achieve high area-efficiency, needs a new test methodology because of its distinctive architecture. In this paper, we propose a a self-test method of DRPs without area overhead. This method constructs a test flame of processor elements (PEs) such that it consists of test pattern generators, response analyzers and PEs under test, and switches several test flames dynamically so as to test all the PEs. Since the structure of a test flame decides the number of contexts and test application time, we design some test flames with different structures and discuss the relationship of the structures to the number of contexts and test application time. Based on this discussion, we can construct the best test flame according to a given test environment.