故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4748
ファイル
タイトル
故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察
別タイトル
On the Fault Escape and Yield Loss by Faulty BIST Circuits
著者
氏名 山中 将嗣
ヨミ ヤマナカ マサシ
別名 YAMANAKA Masashi
氏名 市原 英行
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 ICHIHARA Hideyuki
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
掲載雑誌名
電子情報通信学会総合大会講演論文集
2006年 情報・システム
1
開始ページ
116
終了ページ
116
出版年月日
2006-03-08
出版者
電子情報通信学会
NCID
AN10471452
本文言語
日本語
資料タイプ
会議発表論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©2006 IEICE
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関連情報
isVersionOf:http://ci.nii.ac.jp/naid/110006216783
旧URI
区分
hiroshima-cu