故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4748
File
Title
故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察
Title Alternative
On the Fault Escape and Yield Loss by Faulty BIST Circuits
Author
氏名 山中 将嗣
ヨミ ヤマナカ マサシ
別名 YAMANAKA Masashi
氏名 市原 英行
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 ICHIHARA Hideyuki
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
Journal Title
電子情報通信学会総合大会講演論文集
Volume
2006年 情報・システム
Issue
1
Spage
116
Epage
116
Published Date
2006-03-08
Publisher
電子情報通信学会
NCID
AN10471452
Language
jpn
NIIType
Conference Paper
Text Version
出版社版
Rights
copyright©2006 IEICE
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。
Relation
isVersionOf:http://ci.nii.ac.jp/naid/110006216783
Old URI
Set
hiroshima-cu