テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4750
ファイル
タイトル
テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について
別タイトル
On Test Pattern Selection with a Limited Number of Tests
著者
氏名 市原 英行
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 ICHIHARA Hideyuki
氏名 梶原 誠司
ヨミ カジハラ セイジ
別名 KAJIHARA Seiji
氏名 樹下 行三
ヨミ キノシタ コウゾウ
別名 KINOSHITA Kozo
キーワード
テスト生成
テスト圧縮
故障検出率
IDDQテスト
抄録

テスト生成の研究では, テスト時間を短縮するためにより小さいテスト集合を得ることが重要な目標の一つとなっている. 本論文では, テスト数が上限をもつ条件下でのテスト手法について考察する. テスト数が制限されているときには, 検出可能な故障をすべて検出するために十分なテストを生成できないため, 代表故障を対象としたテスト選択と全故障を対象としたテスト選択では故障検出率に差が生じ, 得られるテスト集合の評価に影響を及ぼす. この問題に対して, ここでは, 重み付き故障リストを用いてテストを選択することにより, テスト数が制限されている条件下で高い故障検出率をもつテスト集合を得る方法を提案している. ブリッジ故障を対象としたIDDQテストに対する実験結果により, 提案したテスト選択手法の有効性を示している.

査読の有無
掲載雑誌名
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
J82-D-I
7
開始ページ
861
終了ページ
868
出版年月日
1999-07-25
出版者
電子情報通信学会
ISSN
09151915
NCID
AA11341020
本文言語
日本語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©1999 IEICE
関連URL
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区分
hiroshima-cu