高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4752
File
Title
高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について
Title Alternative
A Test Generation for Compressible and Compact Test Sets
Author
氏名 市原 英行
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 ICHIHARA Hideyuki
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
Subject
VLSI
テストデータ圧縮
統計型符号
テスト生成
テスト圧縮
Abstract

VLSIのテスト実行時のコストを削減するために, 統計型符号を用いたテストデータ圧縮・展開法が提案されている. この手法では, 与えられたテスト集合をあらかじめ圧縮しておき, テスト時に展開することを行う. 文献[10]では, テスト集合生成時に統計型符号による圧縮率が高まるようにテスト生成を行う手法が提案されており, 高い圧縮率をもつテスト集合が生成できることが報告されている. 本論文では, 文献[10]に動的テストコンパクションを併用することで, 高い圧縮率を保ったまま, テストベクトル数の小さいテスト集合を生成可能な手法を提案する. ベンチマーク回路に対する実験結果は, 提案手法が小さい計算時間で高圧縮かつコンパクトなテスト集合を生成でき, 結果としてテストデータ量を小さくできることを示している.

Description Peer Reviewed
Journal Title
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
Volume
J88-D-I
Issue
6
Spage
1021
Epage
1028
Published Date
2005-06-01
Publisher
電子情報通信学会
ISSN
09151915
NCID
AA11341020
Language
jpn
NIIType
Journal Article
Text Version
出版社版
Rights
copyright©2005 IEICE
Relation
Old URI
Set
hiroshima-cu