無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4950
File
Title
無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
Title Alternative
A Binding Method in High-Level Synthesis for Testable Data Paths Based on Acyclic Partial Scan Design
Author
氏名 高橋 智也
ヨミ タカハシ トモヤ
別名 TAKAHASHI Tomoya
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
氏名 藤原 秀雄
ヨミ フジワラ ヒデオ
別名 FUJIWARA Hideo
Subject
高位合成
部分スキャン設計
無閉路構造
最小クリーク分割
データパス
Abstract

本論文では, 無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための, データパスのテスト容易化高位合成手法を提案する.スケジュールされた動作記述(データフローグラフ)に対して, 面積(リソース数)の最小性を満たしながら, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数を最小にする演算器とレジスタのバインディング法を提案する.本手法は, テスト容易性を考慮しない従来手法と比較して, リソース数を増やすことなく, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数の小さいレジスタ転送レベルデータパスを合成することができる.

Description Peer Reviewed
Journal Title
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
Volume
J83-D-I
Issue
2
Spage
282
Epage
292
Published Date
2000-02-25
Publisher
電子情報通信学会
ISSN
09151915
NCID
AA11341020
Language
jpn
NIIType
Journal Article
Text Version
出版社版
Rights
copyright©2000 IEICE
Relation URL
Old URI
Set
hiroshima-cu