無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/4950
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タイトル
無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
別タイトル
A Binding Method in High-Level Synthesis for Testable Data Paths Based on Acyclic Partial Scan Design
著者
氏名 高橋 智也
ヨミ タカハシ トモヤ
別名 TAKAHASHI Tomoya
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
氏名 藤原 秀雄
ヨミ フジワラ ヒデオ
別名 FUJIWARA Hideo
キーワード
高位合成
部分スキャン設計
無閉路構造
最小クリーク分割
データパス
抄録

本論文では, 無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための, データパスのテスト容易化高位合成手法を提案する.スケジュールされた動作記述(データフローグラフ)に対して, 面積(リソース数)の最小性を満たしながら, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数を最小にする演算器とレジスタのバインディング法を提案する.本手法は, テスト容易性を考慮しない従来手法と比較して, リソース数を増やすことなく, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数の小さいレジスタ転送レベルデータパスを合成することができる.

査読の有無
掲載雑誌名
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
J83-D-I
2
開始ページ
282
終了ページ
292
出版年月日
2000-02-25
出版者
電子情報通信学会
ISSN
09151915
NCID
AA11341020
本文言語
日本語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©2000 IEICE
関連URL
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区分
hiroshima-cu