テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/5325
File
Title
テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について
Title Alternative
An Optimal Scheme of Parallel Processing for Test Generation in a Distributed System
Author
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
氏名 米澤 友紀
ヨミ ヨネザワ トモノリ
別名 YONEZAWA Tomonori
氏名 藤原 秀雄
ヨミ フジワラ ヒデオ
別名 FUJIWARA Hideo
Subject
テスト生成
並列処理
マルチプロセッサ
故障並列
Abstract

本論文では,汎用コンピュータの疎結合分散型ネットワークを用いたテスト生成の並列処理手法を提案する.分散型システムおけるプロセッサ数と処理時間の関係について考察し,最小の処理時間を得るための最適なプロセッサ数について解析する.更に,ISCAS'89ベンチマーク回路に対して,140台のワークステーションからなるネットワーク上での実験結果を示す.

Description Peer Reviewed
Journal Title
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ
Volume
J76-D-1
Issue
11
Spage
604
Epage
612
Published Date
1993-11-25
Publisher
社団法人電子情報通信学会
ISSN
0915-1915
NCID
AN10071319
NAID
110003315851
Language
jpn
NIIType
Journal Article
Text Version
出版社版
Rights
copyright©1993 IEICE
Relation URL
Old URI
Set
hiroshima-cu