テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/5325
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タイトル
テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について
別タイトル
An Optimal Scheme of Parallel Processing for Test Generation in a Distributed System
著者
氏名 井上 智生
ヨミ イノウエ トモオ
別名 INOUE Tomoo
氏名 米澤 友紀
ヨミ ヨネザワ トモノリ
別名 YONEZAWA Tomonori
氏名 藤原 秀雄
ヨミ フジワラ ヒデオ
別名 FUJIWARA Hideo
キーワード
テスト生成
並列処理
マルチプロセッサ
故障並列
抄録

本論文では,汎用コンピュータの疎結合分散型ネットワークを用いたテスト生成の並列処理手法を提案する.分散型システムおけるプロセッサ数と処理時間の関係について考察し,最小の処理時間を得るための最適なプロセッサ数について解析する.更に,ISCAS'89ベンチマーク回路に対して,140台のワークステーションからなるネットワーク上での実験結果を示す.

査読の有無
掲載雑誌名
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-コンピュータ
J76-D-1
11
開始ページ
604
終了ページ
612
出版年月日
1993-11-25
出版者
社団法人電子情報通信学会
ISSN
0915-1915
NCID
AN10071319
NAID
110003315851
本文言語
日本語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©1993 IEICE
関連URL
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区分
hiroshima-cu