A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/6025
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タイトル
A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames
著者
氏名 INOUE Tomoo
ヨミ イノウエ トモオ
別名 井上 智生
氏名 FUJII Takashi
ヨミ フジイ タカシ
別名 市原 英行
氏名 ICHIHARA Hideyuki
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名
キーワード
dynamically reconfigurable processors
self-test
optimal contexts
test application time
test frames
抄録

This paper proposes a self-test method of coarse grain dynamically reconfigurable processors (DRPs) without hardware overhead. In the method, processor elements (PEs) compose a test frame, which consists of test pattern generators (TPGs), processor elements under test (PEUTs) and response analyzers (RAs), while testing themselves one another by changing test frames appropriately. We design several test frames with different structures, and discuss the relationship of the structures to the numbers of contexts and test frames for testing all the functions of PEs. A case study shows that there exists an optimal test frame which minimizes the test application time under a constraint.

査読の有無
掲載雑誌名
IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
E91-D
3
開始ページ
756
終了ページ
762
出版年月日
2008-03-01
出版者
電子情報通信学会(IEICE)
ISSN
0916-8532
本文言語
英語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©2008IEICE
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区分
hiroshima-cu