Huffman-Based Test Response Coding

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/6027
ファイル
タイトル
Huffman-Based Test Response Coding
著者
氏名 ICHIHARA Hideyuki
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 市原 英行
氏名 SHINTANI Michihiro
ヨミ シンタニ ミチヒロ
別名 井上 智生
氏名 INOUE Tomoo
ヨミ イノウエ トモオ
別名
キーワード
Huffman code
test compression
test response
test application time
ATE
抄録

Test compression / decompression is an efficient method for reducing the test application cost. In this letter we propose a response compression method based on Huffman coding. The proposed method guarantees zero-aliasing and it is independent of the fault model and the structure of a circuit-under-test. Experimental results of the compression ratio and the size of the encoder for the proposed method are presented.

査読の有無
掲載雑誌名
IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
E88-D
1
開始ページ
158
終了ページ
161
出版年月日
2005-01-01
出版者
電子情報通信学会(IEICE)
ISSN
0916-8532
本文言語
英語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©2005 IEICE
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区分
hiroshima-cu