Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding

URI http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/6029
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タイトル
Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding
著者
氏名 ICHIHARA Hideyuki
ヨミ イチハラ ヒデユキ
別名 市原 英行
氏名 OGAWA Atsuhiro
ヨミ オガワ アツヒロ
別名 井上 智生
氏名 INOUE Tomoo
ヨミ イノウエ トモオ
別名
氏名 TAMURA Akiko
ヨミ タムラ アキオ
別名
キーワード
VLSI test
test compression
statistical code
test generation
automatic test equipment
抄録

Test compression/decompression is an efficient method for reducing the test application cost. In this paper we propose a test generation method for obtaining test-patterns suitable to test compression by statistical coding. In general, an ATPG generates a test-pattern that includes don't-care values. In our method, such don't-care values are specified based on an estimation of the final probability of 0/1 occurrence in the resultant test set. Experimental results show that our method can generate test patterns that are able to be highly compressed by statistical coding, in small computational time.

査読の有無
掲載雑誌名
IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
E85-D
10
開始ページ
1466
終了ページ
1473
出版年月日
2002-10-01
出版者
電子情報通信学会(IEICE)
ISSN
0916-8532
本文言語
英語
資料タイプ
学術雑誌論文
著者版フラグ
出版社版
権利情報
copyright©2002IEICE
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区分
hiroshima-cu