無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路であり,その一つのクラスとして完全スルー可検査順序回路がある.完全スルー可検査性に基づくテスト容易化設計では,完全スキャン設計に比べて小さい面積オーバヘッドでテスト実行時間の小さいテスト系列を生成できる.本論文では,無閉路可検査性を満たす新たな順序回路のクラスとして,部分スルー可検査順序回路を提案し,部分スルー可検査順序回路に対するテスト生成法,並びに,部分スルー可検査性に基づくテスト容易化設計法を示す.部分スルー可検査性は,完全スルー可検査性のスルー機能に関する十分条件を緩和することで定義され,よって,部分スルー可検査順序回路のクラスは完全スルー可検査順序回路のクラスを真に包含する.実験により,部分スルー可検査性に基づくテスト容易化設計は,完全スルー可検査性に基づくそれに比べて実用的に更なる面積オーバヘッドの削減が可能なだけでなく,テスト実行時間も削減可能であることを示す.