MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
| URI | http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/6870 | ||||||||||||
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| File |
110003321299.pdf
( 95.0 KB )
Open Date
：2010-07-30
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| Title |
MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
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| Title Alternative |
A Test Circuit for Measuring MOSFET Threshold Voltage Mismatch
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| Author |
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| Journal Title |
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
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| Volume |
2003年_エレクトロニクス
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| Issue |
2
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| Spage |
67
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| Published Date |
2003-09-10
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| Publisher |
社団法人電子情報通信学会
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| NCID |
AN10489017
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| NAID |
110003321299
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| Language |
jpn
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| NIIType |
Conference Paper
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| Text Version |
出版社版
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| Rights |
copyright©2003 IEICE
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである
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| Relation |
isVersionOf：http：//ci.nii.ac.jp/naid/110003321299
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| Old URI | |||||||||||||
| Set |
hiroshima-cu
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