MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
| URI | http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/6870 | ||||||||||||
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| ファイル |
110003321299.pdf
( 95.0 KB )
公開日
：2010-07-30
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| タイトル |
MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
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| 別タイトル |
A Test Circuit for Measuring MOSFET Threshold Voltage Mismatch
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| 著者 |
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| 掲載雑誌名 |
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
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| 巻 |
2003年_エレクトロニクス
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| 号 |
2
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| 開始ページ |
67
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| 出版年月日 |
2003-09-10
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| 出版者 |
社団法人電子情報通信学会
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| NCID |
AN10489017
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| NAID |
110003321299
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| 本文言語 |
日本語
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| 資料タイプ |
会議発表論文
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| 著者版フラグ |
出版社版
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| 権利情報 |
copyright©2003 IEICE
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである
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| 関連情報 |
isVersionOf：http：//ci.nii.ac.jp/naid/110003321299
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| 旧URI | |||||||||||||
| 区分 |
hiroshima-cu
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広島市立大学附属図書館〒731-3194 広島県広島市安佐南区大塚東3-4-1
TEL (082)830-1508 FAX (082)830-1659
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