しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響
| URI | http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/8558 | ||||||||||||||||||||||||||||||
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| File |
110007090330.pdf
( 95.0 KB )
Open Date
：2011-03-24
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| Title |
しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響
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| Title Alternative |
Effect of the Halo-Structure on MOSFET Threshold-Voltage Variation
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| Author |
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| Journal Title |
電子情報通信学会総合大会講演論文集
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| Volume |
2009年_エレクトロニクス
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| Issue |
2
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| Spage |
86
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| Published Date |
2009-03-04
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| Publisher |
社団法人電子情報通信学会
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| NCID |
AN10471452
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| NAID |
110007090330
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| Language |
jpn
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| NIIType |
Conference Paper
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| Text Version |
出版社版
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| Rights |
copyright©2009 IEICE
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである
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| Relation |
isVersionOf：http://ci.nii.ac.jp/naid/110007090330
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| Old URI | |||||||||||||||||||||||||||||||
| Set |
hiroshima-cu
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