しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響
| URI | http://harp.lib.hiroshima-u.ac.jp/hiroshima-cu/metadata/8558 | ||||||||||||||||||||||||||||||
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| ファイル |
110007090330.pdf
( 95.0 KB )
公開日
：2011-03-24
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| タイトル |
しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響
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| 別タイトル |
Effect of the Halo-Structure on MOSFET Threshold-Voltage Variation
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| 著者 |
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| 掲載雑誌名 |
電子情報通信学会総合大会講演論文集
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| 巻 |
2009年_エレクトロニクス
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| 号 |
2
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| 開始ページ |
86
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| 出版年月日 |
2009-03-04
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| 出版者 |
社団法人電子情報通信学会
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| NCID |
AN10471452
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| NAID |
110007090330
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| 本文言語 |
日本語
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| 資料タイプ |
会議発表論文
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| 著者版フラグ |
出版社版
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| 権利情報 |
copyright©2009 IEICE
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである
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| 関連情報 |
isVersionOf：http://ci.nii.ac.jp/naid/110007090330
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| 旧URI | |||||||||||||||||||||||||||||||
| 区分 |
hiroshima-cu
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