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ICHIHARA Hideyuki : イチハラ ヒデユキ

creator list > ICHIHARA Hideyuki : イチハラ ヒデユキ
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Search Result 8 Items
A Method of Test Generation for Acyclic Sequential Circuits Using Single Stuck-at Fault Combinational ATPG
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 INOUE Tomoo 井上 智生
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
Volume : E86-A
Issue : 12
Published Date : 2003-12-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 68 Items Download Count ： 17 Items
An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 OCHI Masakuni 井上 智生 SHINTANI Michihiro INOUE Tomoo
Journal Title : 情報処理学会論文誌
Volume : 47
Issue : 6
Published Date : 2006-06-15
Publisher : 社団法人情報処理学会
Access Count ： 67 Items Download Count ： 13 Items
A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames
Author : INOUE Tomoo 井上 智生 FUJII Takashi 市原 英行 ICHIHARA Hideyuki
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E91-D
Issue : 3
Published Date : 2008-03-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 76 Items Download Count ： 21 Items
A Variable-Length Coding Adjustable for Compressed Test Application
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 OHARA Toshihiro 井上 智生 SHINTANI Michihiro INOUE Tomoo
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E90-D
Issue : 8
Published Date : 2007-08-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 66 Items Download Count ： 14 Items
An Architecture of Embedded Decompressor with Reconfigurability for Test Compression
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 SAIKI Tomoyuki 井上 智生 INOUE Tomoo
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E91-D
Issue : 3
Published Date : 2008-03-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 82 Items Download Count ： 21 Items
On Processing Order for Obtaining Implication Relations in Static Learning
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 KAJIHARA Seiji KINOSHITA Kozo
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E83-D
Issue : 10
Published Date : 2000-10-20
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 74 Items Download Count ： 20 Items
Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 OGAWA Atsuhiro 井上 智生 INOUE Tomoo TAMURA Akiko
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E85-D
Issue : 10
Published Date : 2002-10-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 67 Items Download Count ： 14 Items
Huffman-Based Test Response Coding
Author : ICHIHARA Hideyuki 市原 英行 SHINTANI Michihiro 井上 智生 INOUE Tomoo
Journal Title : IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems
Volume : E88-D
Issue : 1
Published Date : 2005-01-01
Publisher : 電子情報通信学会(IEICE)
Access Count ： 54 Items Download Count ： 19 Items
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